Pollentier, I.: шукати на сайті Z-Library

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (88)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California, United States (Sunday 21 February 2016)] Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography VII - Novel metal containing resists for EUV lithography extendibility

Panning, Eric M., Goldberg, Kenneth A., De Simone, Danilo, Sayan, Safak, Dei, Satoshi, Pollentier, Ivan, Kuwahara, Yuhei, Vandenberghe, Geert, Nafus, Kathleen, Shiratani, Motohiro, Nakagawa, Hisashi,

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.28 MB

english, 2016

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California, United States (Sunday 23 February 2014)] Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography V - Relationship between resist outgassing and EUV witness sample contamination in NXE outgas qualification using electrons and EUV photons

Wood, Obert R., Panning, Eric M., Pollentier, I., Tirumala Venkata, A., Gronheid, R.

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 522 KB

english, 2014

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California, United States (Sunday 21 February 2016)] Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography VII - EUV lithography imaging using novel pellicle membranes

Panning, Eric M., Goldberg, Kenneth A., Pollentier, Ivan, Vanpaemel, Johannes, Lee, Jae Uk, Adelmann, Christoph, Zahedmanesh, Houman, Huyghebaert, Cedric, Gallagher, Emily E.

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 5.51 MB

english, 2016

SPIE Proceedings [SPIE SPIE 31st International Symposium on Advanced Lithography - San Jose, CA (Sunday 19 February 2006)] Advances in Resist Technology and Processing XXIII - Top coat or no top coat for immersion lithography?

Stepanenko, N., Lin, Qinghuang, Kim, Hyun-Woo, Kishimura, S., Van Den Heuvel, D., Vandenbroeck, N., Kocsis, M., Foubert, P., Maenhoudt, M., Ercken, M., Van Roey, F., Gronheid, R., Pollentier, I., Vang

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 498 KB

english, 2006

Integration of Cu and low-k dielectrics: effect of hard mask and dry etch on electrical performance of damascene structures

R.A. Donaton, B. Coenegrachts, M. Maenhoudt, I. Pollentier, H. Struyf, S. Vanhaelemeersch, I. Vos, M. Meuris, W. Fyen, G. Beyer, Z. Tokei, M. Stucchi, I. Vervoort, D. De Roest, K. Maex

Журнал:

Microelectronic Engineering

Рік:

2001

Мова:

english

Файл:

PDF, 857 KB

english, 2001

An item response analysis of the international restless legs syndrome study group rating scale for restless legs syndrome

Glen R. Wunderlich, Kenneth R. Evans, Terrence Sills, Stephane Pollentier, Juergen Reess, Richard P. Allen, Wayne Hening, Arthur S. Walters, The International Restless Legs Syndrome Study Group

Журнал:

Sleep Medicine

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 226 KB

english, 2005

Increased serotonin after a suicide attempt: Coincidence or catharsis?

Peter Bräunig, Stefan Pollentier, Marie Luise Rao

Журнал:

Biological Psychiatry

Рік:

1988

Мова:

english

Файл:

PDF, 258 KB

english, 1988

Fabrication of a GaAs-AlGaAs GRIN-SCH SQW laser diode on silicon by epitaxial lift-off

Pollentier, I., Buydens, L., Van Daele, P., Demeester, P.

Журнал:

IEEE Photonics Technology Letters

Рік:

1991

Мова:

english

Файл:

PDF, 304 KB

english, 1991

SPIE Proceedings [SPIE Microelectronic and MEMS Technologies - Edinburgh, United Kingdom (Wednesday 30 May 2001)] Lithography for Semiconductor Manufacturing II - Lithography aspects of dual-damascene interconnect technology

Maenhoudt, Mireille, Van Goidsenhoven, Diziana, Pollentier, Ivan K., Ronse, Kurt G., Lepage, Muriel, Struyf, Herbert, Van Hove, Marleen, Mack, Chris A., Stevenson, Tom

Рік:

2001

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.09 MB

english, 2001

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California, USA (Sunday 27 February 2011)] Advances in Resist Materials and Processing Technology XXVIII - Assessment of resist outgassing related EUV optics contamination for CAR and non-CAR material chemistries

Allen, Robert D., Pollentier, I., Neira, I., Somervell, Mark H., Gronheid, R.

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 563 KB

english, 2011

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Photomask Technology - Monterey, California, United States (Tuesday 29 September 2015)] Photomask Technology 2015 - Properties and performance of EUVL pellicle membranes

Hayashi, Naoya, Kasprowicz, Bryan S., Gallagher, Emily E., Vanpaemel, Johannes, Pollentier, Ivan, Zahedmanesh, Houman, Adelmann, Christoph, Huyghebaert, Cedric, Jonckheere, Rik, Lee, Jae Uk

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 594 KB

english, 2015

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California (Sunday 12 February 2012)] Advances in Resist Materials and Processing Technology XXIX - Patterning development in spin-on hard mask systems for 30nm half-pitch EUV technology

Truffert, Vincent, Pollentier, Ivan, Foubert, Philippe, Lazzarino, Frederic, Anno, Yuusuke, Wilson, Christopher J., Ercken, Monique, Gronheid, Roel, Demuynck, Steven, Buch, Xavier, Somervell, Mark H.,

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.95 MB

english, 2012

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California, USA (Sunday 27 February 2011)] Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography II - Unraveling the effect of resist composition on EUV optics contamination

Pollentier, I., La Fontaine, Bruno M., Naulleau, Patrick P., Neira, I., Goethals, A.-M., Gronheid, R., Tarutani, S., Tamaoki, H., Tsubaki, H., Takahashi, T.

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 415 KB

english, 2011

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California (Sunday 21 February 2010)] Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography - Characterization of EUV optics contamination due to photoresist related outgassing

La Fontaine, Bruno M., Pollentier, I., Goethals, A.-M., Gronheid, R., Steinhoff, J., Van Dijk, J.

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 633 KB

english, 2010

EUV Resist Process Performance Investigations on the NXE3100 Full Field Scanner

Goethals, Anne-Marie, Foubert, Philippe, Hosokawa, Kohei, Roey, Frieda Van, Niroomand, Ardavan, Heuvel, Dieter Van den, Pollentier, Ivan

Журнал:

Journal of Photopolymer Science and Technology

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.43 MB

english, 2012

Photoresist Absorption Measurement at Extreme Ultraviolet (EUV) Wavelength by Thin Film Transmission Method

Shehzad, Atif, Vesters, Yannick, Simone, Danilo De, Pollentier, Ivan, Nannarone, Stefano, Vandenberghe, Geert, De Gendt, Stefan

Журнал:

Journal of Photopolymer Science and Technology

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.58 MB

english, 2019

Low stress Pd/Ge-based ohmic contacts for GaAs epitaxial-lift-off

I. Pollentier, Y. Zhu, B. De Meulemeester, P. Van Daele, P. Demeester

Журнал:

Microelectronic Engineering

Рік:

1991

Мова:

english

Файл:

PDF, 195 KB

english, 1991

Heteroepitaxial or epitaxial lift-off approach for future optoelectronic GaAs MESFET/InP optical switch integration ?

I. Pollentier, L. Buydens, P. Van Daele, P. Demeester

Журнал:

Microelectronic Engineering

Рік:

1992

Мова:

english

Файл:

PDF, 264 KB

english, 1992

Recent developments in relaxed and strained lattice mismatched heterostructures

P. Demeester, G. Coudenys, L. Buydens, A. Ackaert, I. Moerman, I. Pollentier, P. van Daele

Журнал:

Materials Science and Engineering: B

Рік:

1991

Мова:

english

Файл:

PDF, 755 KB

english, 1991

Extreme ultraviolet (EUV) degradation of poly(olefin sulfone)s: Towards applications as EUV photoresists

Kirsten Lawrie, Idriss Blakey, James Blinco, Roel Gronheid, Kevin Jack, Ivan Pollentier, Michael J. Leeson, Todd R. Younkin, Andrew K. Whittaker

Журнал:

Radiation Physics and Chemistry

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 435 KB

english, 2011

Measurements on the magnetic susceptibilities of Ag-Mn and Cu-Mn alloys

A. Van Itterbeek, R. Pollentier, W. Peelaers

Журнал:

Applied Scientific Research

Рік:

1957

Мова:

english

Файл:

PDF, 260 KB

english, 1957

Measurements on the magnetic susceptibilities of Ag-Mn and Cu-Mn alloys

A. Van Itterbeek, R. Pollentier, W. Peelaers

Журнал:

Applied Scientific Research, Section B

Рік:

1959

Мова:

english

Файл:

PDF, 252 KB

english, 1959

Relaxed lattice-mismatched growth of III–V semiconductors

P. Demeester, A. Ackaert, G. Coudenys, I. Moerman, L. Buydens, I. Pollentier, P. Van Daele

Журнал:

Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials

Рік:

1991

Мова:

english

Файл:

PDF, 4.33 MB

english, 1991

Pharmacology of Flibanserin

Franco Borsini, Kennett Evans, Kathryn Jason, Frank Rohde, Barbara Alexander, Stephan Pollentier

Журнал:

CNS Drug Reviews

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 188 KB

english, 2002

Spatial and temporal trends in nutrient concentrations in the Belgian Continental area of the North Sea during the period 1993–2000

Sandra De Galan, Marc Elskens, Leo Goeyens, André Pollentier, Natacha Brion, Willy Baeyens

Журнал:

Estuarine, Coastal and Shelf Science

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 438 KB

english, 2004

GaAs/AlGaAs multiple-quantum-well vertical optical modulators on glass using the epitaxial lift-off technique

Buydens, L., De Dobbelaere, P., Demeester, P., Pollentier, I., Van Daele, P.

Журнал:

Optics Letters

Рік:

1991

Мова:

english

Файл:

PDF, 505 KB

english, 1991

The scope of chiropractic practice: A survey of chiropractors in the UK

Aranka Pollentier, Jennifer M. Langworthy

Журнал:

Clinical Chiropractic

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 148 KB

english, 2007

Calcitonin Gene–Related Peptide Receptor Antagonist BIBN 4096 BS for the Acute Treatment of Migraine

Olesen, Jes, Diener, Hans-Christoph, Husstedt, Ingo W., Goadsby, Peter J., Hall, David, Meier, Ulrich, Pollentier, Stephane, Lesko, Lynna M.

Журнал:

Boston Medical and Surgical Journal

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 110 KB

english, 2004

SPIE Proceedings [SPIE Microlithography 2000 - Santa Clara, CA (Sunday 27 February 2000)] Optical Microlithography XIII - Status of ArF lithography for the 130-nm technology node

Ronse, Kurt G., Vandenberghe, Geert, Jaenen, Patrick, Delvaux, Christie, Vangoidsenhoven, Diziana, Van Roey, Frieda, Pollers, Ingrid, Maenhoudt, Mireille, Goethals, Anne-Marie, Pollentier, Ivan K., Vl

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 4.27 MB

english, 2000

Chain scission resists for extreme ultraviolet lithography based on high performance polysulfone-containing polymers

Lawrie, Kirsten J., Blakey, Idriss, Blinco, James P., Cheng, Han Hao, Gronheid, Roel, Jack, Kevin S., Pollentier, Ivan, Leeson, Michael J., Younkin, Todd R., Whittaker, Andrew K.

Журнал:

Journal of Materials Chemistry

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 326 KB

english, 2011

[IEEE IEEE International Electron Devices Meeting - San Francisco, CA, USA (8-11 Dec. 2002)] Digest. International Electron Devices Meeting, - Line edge roughness: characterization, modeling and impact on device behavior

Croon, J.A., Storms, G., Winkelmeier, S., Pollentier, I., Ercken, M., Decoutere, S., Sansen, W., Maes, H.E.

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 277 KB

english, 2002

[IEEE IEEE 2000 International Interconnect Technology Conference - Burlingame, CA, USA (5-7 June 2000)] Proceedings of the IEEE 2000 International Interconnect Technology Conference (Cat. No.00EX407) - Lithography as a critical step for low-k dual damascene: from 248 nm to 193 nm

Ronse, K., Maenhoudt, M., Pollentier, I., Wiaux, V., Struyf, H., Lepage, M., Vanhaelemeersch, S.

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 281 KB

english, 2000

[IEEE 1993 (5th) International Conference on Indium Phosphide and Related Materials - Paris, France (19-22 April 1993)] 1993 (5th) International Conference on Indium Phosphide and Related Materials - Epitaxially lifted-off GaAs MESFETs on InP for optoelectronic integration

Pollentier, I., Brys, C., Debie, P., Coppoolse, R., Martens, L., Vandewege, J., Van Daele, P., Demeester, P.

Рік:

1993

Мова:

english

Файл:

PDF, 313 KB

english, 1993

[IEEE Summer Topical Meeting Digest on Broadband Analog and Digital Optoelectronics, Optical Multiple Access Networks, Integrated Optoelectronics, Smart Pixels - Santa Barbara, CA, USA (29 July-12 Aug. 1992)] Summer Topical Meeting Digest on Broadband Analog and Digital Optoelectronics, Optical Multiple Access Networks, Integrated Optoelectronics, Smart Pixels - Optimization And Reliability Of Epitaxial Lift-off For OEIC Fabrication

Pollentier, I., Demeester, P., Van Daele, P., Martens, L.

Рік:

1992

Файл:

PDF, 168 KB

1992

[IEEE Third International Conference Indium Phosphide and Related Materials - Cardiff, UK (8-11 April 1991)] [Proceedings 1991] Third International Conference Indium Phosphide and Related Materials - Fabrication of long wavelength QEICs using GaAs on InP epitaxial lift-off technology

Pollentier, I., Demeester, P., Van Daele, P., Rondi, D., Glastre, G., Enard, A., Blondeau, R.

Рік:

1991

Мова:

english

Файл:

PDF, 384 KB

english, 1991

[IEEE ISSM 2005, IEEE International Symposium on Semiconductor Manufacturing, 2005. - San Jose, CA, USA (2005.09.13-2005.09.15)] ISSM 2005, IEEE International Symposium on Semiconductor Manufacturing, 2005. - CD SEM calibration to TEM for accurate metrology of fins in MuGFET devices

Lorusso, G.F., Collaert, N., Rooyackers, R., Ercken, M., Pollentier, I., Cheng, S., Degroote, B., Jurczak, M., Biesemans, S., Richard, O., Bender, H., Azordegan, A., Kuppa, R., Shirke, S., Prochazka,

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 378 KB

english, 2005

Eastern wild turkey demography: Sensitivity of vital rates between landscapes

Pollentier, Christopher D., Hull, Scott D., Lutz, R. Scott

Журнал:

Journal of Wildlife Management

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 338 KB

english, 2014

High throughput grating qualification of directed self-assembly patterns using optical metrology

Van Look, Lieve, Rincon Delgadillo, Paulina, Lee, Yu-tsung, Pollentier, Ivan, Gronheid, Roel, Cao, Yi, Lin, Guanyang, Nealey, Paul F.

Журнал:

Microelectronic Engineering

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.22 MB

english, 2014

Survival and productivity of eastern wild turkey females in contrasting landscapes in Wisconsin

Pollentier, Christopher D., Lutz, R. Scott, Hull, Scott D.

Журнал:

Journal of Wildlife Management

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 597 KB

english, 2014

Epitaxial lift-off and its applications

Demeester, P, Pollentier, I, Dobbelaere, P De, Brys, C, Daele, P Van

Журнал:

Semiconductor Science and Technology

Рік:

1993

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.31 MB

english, 1993

[IEEE ESSDERC 2003. 33rd European Solid-State Device Research - ESSDERC '03 - Estoril, Portugal (16-18 Sept. 2003)] Electrical Performance of Electrical Packaging (IEEE Cat. No. 03TH8710) - Gate isolation technology for compact poly-CMP embedded flash memories

Slotboom, M., Goarin, P., Akil, N., van Duuren, M., Demand, M., Wouters, J.M.D., Beckx, S., Leray, P., Baertsb, C., Baerts, C., Heylen, N., Pollentier, I.

Рік:

2003

Мова:

english

Файл:

PDF, 316 KB

english, 2003

SPIE Proceedings [SPIE Microlithography 2004 - Santa Clara, CA (Sunday 22 February 2004)] Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVIII - Effects of different processing conditions on line-edge roughness for 193-nm and 157-nm resists

Ercken, Monique, Leunissen, Leonardus H. A., Pollentier, Ivan, Patsis, George P., Constantoudis, Vassilios, Gogolides, Evangelos, Silver, Richard M.

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 446 KB

english, 2004

SPIE Proceedings [SPIE SPIE 31st International Symposium on Advanced Lithography - San Jose, CA (Sunday 19 February 2006)] Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XX - Comprehensive approach to MuGFET metrology

Lorusso, G. F., Leray, P., Vandeweyer, T., Ercken, M., Delvaux, C., Pollentier, I., Cheng, S., Collaert, N., Rooyackers, R., Degroote, B., Jurczak, M., Biesemans, S., Richard, O., Bender, H., Azordega

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 583 KB

english, 2006

Montaigne's 'Patron Au-Dedans' and Virginia Woolf's Conception of the Modern Patron

Pollentier, C.

Журнал:

Notes and Queries

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 94 KB

english, 2008

Epitaxial lift-off GaAs LEDs to Si for fabrication of opto-electronic integrated circuits

Pollentier, I., Demeester, P., Ackaert, A., Buydens, L., Van Daele, P., Baets, R.

Журнал:

Electronics Letters

Рік:

1990

Мова:

english

Файл:

PDF, 231 KB

english, 1990

SPIE Proceedings [SPIE Physical Concepts of Materials for Novel Optoelectronic Device Applications - Aachen, Federal Republic of Germany (Sunday 28 October 1990)] Physical Concepts of Materials for Novel Optoelectronic Device Applications I: Materials Growth and Characterization - Fabrication of high-radiance LEDs by epitaxial lift-off

Pollentier, Ivan K., Ackaert, Ann, De Dobbelaere, Peter M., Buydens, Luc, Van Daele, Peter, Demeester, Piet M. A., Razeghi, Manijeh

Рік:

1991

Мова:

english

Файл:

PDF, 444 KB

english, 1991

Integration of GaAs MESFETs and lithium niobate optical switches using epitaxial lift-off

O'Donnell, A.C., Pollentier, I., Demeester, P., Van Daele, P., Carr, A.D

Журнал:

Electronics Letters

Рік:

1990

Мова:

english

Файл:

PDF, 806 KB

english, 1990

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California, USA (Sunday 24 February 2013)] Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography IV - Relationship between resist related outgassing and witness sample contamination in the NXE outgas qualification using electrons and EUV

Pollentier, I., Naulleau, Patrick P., Lokasani, R., Gronheid, R., Hill, S., Tarrio, C., Lucatorto, T.

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.47 MB

english, 2013

Pramipexol: Präklinisches und klinisches Profil

Pollentier, S., Brecht, H. M.

Журнал:

Aktuelle Neurologie

Рік:

1998

Файл:

PDF, 258 KB

1998

SPIE Proceedings [SPIE Advanced Lithography - San Jose, CA (Sunday 25 February 2007)] Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXI - Innovative metrology for wafer edge defectivity in immersion lithography

Pollentier, I., Archie, Chas N., Iwamoto, F., Kocsis, M., Somanchi, A., Burkeen, F., Vedula, S.

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.16 MB

english, 2007